Keithley S530 参数化测试系统
- Keithley S530 参数化测试系统
- 通过自动探头测试台实现精密高速测量 S530 参数化测试系统适用于必须操作各种设备和技术的生产和实验室环境，提供业界领先的测试计划灵活性、自动化、探头测试台集成以及测试数据管理功能。Keithley 拥有超过 30 年的专业经验，针对这些测试解决方案的设计向全世界的客户提供各种标准和自定义参数化测试仪。 S500 集成式测试系统是高度可配置的、基于仪器的系统，适用于器件、晶片或暗盒级半导体检定。S500 集成式测试系统基于我们经过验证的仪器，提供创新的测量功能和系统灵活性，并且根据您的需求可进行扩展。独有的测量能力结合强大而灵活的自动化检定套件 (ACS) 软件，提供市场上其他同类系统无法提供的广泛应用和功能。
- 适用于自动晶片级测试的标准和自定义配置系统
