1．怎样用示波器测量出USB总线上的差分信号？
　　答：USB 信号的测试分为2种情况：
　　第一种是需要进行符合USB组织定义USB1.1/2.0总线的物理层测试规范，只有通过USB一致性测试后方可打上USB标识。USB物理层一致性测试分为很多个测试项目,主要是考察USB信号的信号质量如何，象Signal Quality Test、Droop & Drop Test、Inrush Current Test、HS Specific Tests、Chirp Test、Monotonic Test、Receiver sensitivity Test、Impedance Test (TDR) 等等。
　　第二种情况是仅观测USB总线上的信号，可以选择合适的差分探头连接到D+, D-，直接进行USB信号的观测。USB2.0信号速度比较快，上升时间为几百皮秒，为了保证信号的包真度测试，需要选择大于2GHz的示波器和差分探头进行测试。
2． PCB板上的高速信号特征：XAUI接口3.125GBd串行差分信号：60ps，请问需要多高带宽的示波器才能精确测量？测量误差可达多少？
　　答：对XAUI接口3.125GBd 串行差分信号，听起来有点象InfiniBand 信号，用正弦内插的方式，或类似等效采样的方式来采集，但由于本身带宽和触发抖动等因素，在其测量100ps ~ 130ps范围内的上升时间时，采用7GHz差分探头可保证误差<3%，对于< 80ps的上升时间测量，其误差会大于10%, 虽然这已经是实时示波器中最好的方案，单就上升时间测量而言，最精确的方案是安捷伦的网络分析仪(需配上物理层分析软件)，因为其带宽可高达50GHz。
3． 对时钟的相位噪声参数的要求很高的设计，需要考虑哪些关键性的问题来降低相位噪声？
　　答：在ADC,DAC的器件中衡量性能有很多项指标：象位数、转换速度、DC精度、开关性能、动态性能（SNR, SINAD,IMD）等等。
　　27． 对时钟的相位噪声参数的要求很高的设计，怎样测量相位噪声？
　　答：从示波器的角度来看，可以测试ADC,DAC的模拟和数字信号的幅度，时间，转换后的信号质量，转换速度，时钟和数据的建立/保持时间等参数，还可以通过TDS示波器中的高级运算功能（频谱分析功能）来定性测量SNR,SINAD等参数。
4． 由于可能需要引入外界的时钟，这样时钟存在2选1的问题，此时用什么方案才能使相位噪声的恶化最小？
　　答：首先要分析抖动产生的来源，示波器来分析抖动是一个很好的工具，目前可以使用TDS5000B/6000B/7000B系列示波器配合抖动分析软件进行彻底抖动分析，象确定抖动(Dj)，随机抖动(Rj)，Rj和Dj的分离，最后通过分析造成抖动的原因来消除抖动。
5． 在示波器上看波形时，用外触发和自触发来看有何区别？
　　答：示波器的通常触发是边沿触发，其触发条件有2个，触发电平和触发边沿；即：信号的上升沿（或者下降沿）达到某一特定电平（触发电平）时，示波器触发。 示波器只有在信号自触发有问题的时候才会使用外触发，没有哪一个更好的问题。而这种问题通常可能是，信号比较复杂， 有很多满足触发条件的点，无法每次在同一位置触发，从而得到稳定的显示。这时需要使用外触发。举例如下：
　　观测上面的信号，由于ABCD各点都会触发，示波器显示波形将不能稳定。这时可以使用下面的信号作为触发信号，示波器将得到能够全部周期的显示。
6． TDS3032B的带宽是300MHz，采样频率为2.5G/s，采样频率为带宽的8倍。请问带宽和采样频率之间有什么固定关系？我们也有一款其它厂家的示波器，带宽100MHz、采样频率只有200MHz。为什么两个示波器的带宽采样频率比相差这么大？
　　答：带宽是示波器最重要的指标，因为在数字示波器中有ADC，它的采样率理论上需要满足Nyquist采样定律，即被测信号的最高频率信号的每个周期理论上至少需要采2个点，否则会造成混叠。但是在实际上还取决于很多其它的因素，比如波形的重构算法等。泰克示波器采用先进的波形重构算法，被测信号的每个周期只需要2.5个点就能够重构波形。也有的示波器采用线性插值算法，可能就需要10个点。一般采样率是带宽的4－5倍就可以比较准确地再现波形。
　　泰克的TDS3000B系列是“实时采样”示波器，即，它的单次带宽（捕获单次信号的能力）＝重复带宽，您所说的另一种示波器的单次带宽显然不到100MHz，您可以看一下它的指标。