使用泰克逻辑分析仪，您可以业界高的采集速度来采集快速边沿。根据具体应用进行调整的支持包让您更容易探测、采集、解码、分析和验证微处理器、FPGA 或内存设计的性能。

      泰克TLA6000系列逻辑分析仪曾经被EDN杂志评为2010年度Hot100产品。此项殊荣旨在表彰为推动电子工业进步做出的贡献年度佳产品。

      年度Hot100产品由EDN编委会评选出EDN编辑和读者公认为电子界热门的新产品。2010年9月推出的TLA6000系列逻辑分析仪以其高性能和高度经济性，为主流嵌入式系统设计人员提供高端调试和分析功能而入选本届Hot100。

       "随着信号传输速度的加快以及基板密度提高，使嵌入式系统工程师面临大量信号完整性问题，如果不使用具有高端调试功能的工具几乎不可能完成检测，"泰克公司逻辑分析仪产品线总监Dave Farrell说，"入选本年度Hot100产品表明，TLA6000系列逻辑分析仪以其先进的逻辑分析功能，极为经济的价位满足实际的市场需求。"

     TLA6000 系列逻辑分析仪可配置68、102和136个数字通道，所有通道定时分辨率高达125 ps，可实现高达450 MHz的状态采集能力和128 Mb的存储深度。这种性能水平实现了性价比的重大突破。

      TLA6000系列通过多项先进的特性提高了工程设计效率，例如，iCaptureTM技术通过一只逻辑分析仪探头同时提供数字采集和模拟采集，从而无须进行两次采集。毛刺触发和存储允许用户触发并显示观测到的信号完整性错误，而iViewTM显示可在同一个显示屏上提供逻辑分析仪和示波器数据的时间相关的有用视图。简单且直观的仪器设置可帮助在繁忙的实验室环境中加快设计过程，从而节约时间。

      TLA6000系列逻辑分析仪适用于各种调试和分析应用，包括信号完整性分析、 现场可编程逻辑门阵列(FPGA)调试和验证、移动行业处理器接口(MIPI)协议分析、存储系统验证、嵌入式软件集成与调试。TLA6000是泰克整个逻辑分析仪产品线的一员，整个系列还包括便携式TLA5000系列、模块化TLA7000系列，以及TLA7000系列中的TLA7SA00系列逻辑协议分析仪模块。