安全准确地探测电压波形和电流波形
2012/10/31 9:40:04
在使用数字示波器进行电源测量时,必须测量设备中的电压及电流。这一任务要求使用两只不同的探头:一只电压探头(通常是高压差分探头),一只电流探头。图1显示了开关式电源(SMPS)中的典型测量方案。在范围在几kHz到几MHz的时钟驱动下,金属氧化物场效应晶体管(MOSFET)控制着电流。
测量经过MOSFET的电流相对简单,可以使用许多不同的泰克霍尔效应电流探头完成,如TCP0030。而测量电压则会面临更多的问题。MOSFET没有连接到交流电源接地或电路输出接地上。因此,不可能使用示波器进行接地参考电压测量,因为把探头的地线连接到任何MOSFET端子上都会使通过示波器接地的电路短路。
进行差分测量是测量MOSFET电压的最佳方式。在差分测量中,可以测量漏极到源极电压(VDS),即MOSFET漏极和源极端子中的电压。VDS可以位于几十伏到几百伏电压的顶部,具体视电源的范围而定。
可以通过多种方法测量VDS:
浮动示波器的机箱接地。绝对不要采用这种方式,因为这种非常不安全,会给用户、被测设备和示波器带来危险。
使用传统无源单端探头,把地线相互连接起来,使用示波器的通道匹配功能。这种测量方式称为准差分测量。但是,无源探头与示波器的放大器结合使用时,不能提供充分阻塞任何共模电压的共模抑制比(CMRR)。尽管用户可能很想使用这种方法,因为可以使用已有的探头,但它并不能准确地测量电压。
使用商用探头隔离器,隔离示波器的机箱接地。探头的地线不再位于接地电位,可以把探头直接连接到测试点上。探头隔离器是一种有效的解决方案,但它成本高,通常是差分探头的2~5倍。
使用真正差分探头。高压差分探头(如泰克P5205)可以准确安全地测量VDS。
测量经过MOSFET的电流相对简单,可以使用许多不同的泰克霍尔效应电流探头完成,如TCP0030。而测量电压则会面临更多的问题。MOSFET没有连接到交流电源接地或电路输出接地上。因此,不可能使用示波器进行接地参考电压测量,因为把探头的地线连接到任何MOSFET端子上都会使通过示波器接地的电路短路。
进行差分测量是测量MOSFET电压的最佳方式。在差分测量中,可以测量漏极到源极电压(VDS),即MOSFET漏极和源极端子中的电压。VDS可以位于几十伏到几百伏电压的顶部,具体视电源的范围而定。
可以通过多种方法测量VDS:
浮动示波器的机箱接地。绝对不要采用这种方式,因为这种非常不安全,会给用户、被测设备和示波器带来危险。
使用传统无源单端探头,把地线相互连接起来,使用示波器的通道匹配功能。这种测量方式称为准差分测量。但是,无源探头与示波器的放大器结合使用时,不能提供充分阻塞任何共模电压的共模抑制比(CMRR)。尽管用户可能很想使用这种方法,因为可以使用已有的探头,但它并不能准确地测量电压。
使用商用探头隔离器,隔离示波器的机箱接地。探头的地线不再位于接地电位,可以把探头直接连接到测试点上。探头隔离器是一种有效的解决方案,但它成本高,通常是差分探头的2~5倍。
使用真正差分探头。高压差分探头(如泰克P5205)可以准确安全地测量VDS。