泰克DSA8300数字采样示波器提供了小于 100 fs 的本底抖动,可以实现异常准确的器件检定,全面支持光通信标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155 Mb/s 至 40 Gb/s 及更高速率的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。
泰克DPS8300数字采样示波器是一款面向高速光通信、先进半导体研发和高精度信号分析的高端测试设备,凭借其超高带宽、低噪声设计和多通道同步能力,广泛应用于复杂信号的捕获、分析和验证。以下是其核心测试功能及典型应用场景:
一、高速光通信测试
光模块性能验证
光信号参数测量:支持光调制幅度(OMA)、消光比(ER)、光信噪比(OSNR)等关键指标分析。
眼图测试:生成高速光信号(如100G/400G PAM4)的眼图,评估信号完整性(抖动、噪声裕量)。
误码率(BER)关联:结合误码仪,分析眼图张开度与系统误码率的关系。
相干光通信分析
DP-QPSK/16-QAM解调:支持复杂调制格式的星座图、相位噪声和偏振态分析。
光链路损伤诊断:定位色散、非线性效应等对信号质量的影响。
二、高速电信号测试
高速串行接口验证
PCIe/USB/以太网:分析PCIe Gen5/6、USB4、800G以太网等接口的时序、抖动(TJ/RJ/DJ)和协议一致性。
SerDes性能测试:捕获高速串行信号(56Gbps+),支持均衡(CTLE/DFE)和预加重/去加重效果评估。
时域反射测量(TDR/TDT)
阻抗分析:通过TDR测量PCB传输线阻抗连续性,定位阻抗突变点(如过孔、连接器)。
插入损耗/回波损耗:结合TDT分析高速通道的S参数特性。
电源完整性测试
PDN阻抗分析:测量电源分配网络的阻抗曲线,评估去耦电容设计效果。
电源噪声与纹波:检测高速芯片供电的瞬态噪声和低频纹波(需配合高灵敏度探头)。
三、高精度时频域分析
抖动与相位噪声测量
时钟信号分析:量化时钟源的周期抖动(PJ)、随机抖动(RJ)和相位噪声(Phase Noise)。
PLL性能评估:分析锁相环的锁定时间、频偏及稳定性。
频谱分析(FFT)
杂散信号检测:识别信号谐波、开关电源噪声或EMI干扰频率。
宽带信号分解:分析复杂调制信号的频谱成分(如OFDM子载波)。
四、多通道同步测试
并行总线分析
DDR/LPDDR验证:多通道同步捕获地址线、数据线时序,验证Setup/Hold时间、写均衡等参数。
高速ADC/DAC测试:同步分析模拟输入与数字输出的动态性能(如ENOB、SFDR)。
MIMO系统调试
多天线信号同步:支持4通道以上同步采集,分析MIMO系统通道间延迟与相位一致性。
五、光与电信号混合测试
光电联合调试
光接收机测试:同时测量光输入(通过光探头)与电输出信号,验证TIA(跨阻放大器)响应。
光发射机驱动分析:关联激光器驱动电流(电信号)与输出光功率(光信号)。
硅光芯片特性分析
光波导损耗测量:结合可调激光源,分析硅光芯片的插入损耗与波长依赖性。
六、核心硬件与软件功能
超高带宽与采样率
支持70 GHz以上带宽(依赖模块配置),采样率可达200 GS/s,可捕获亚皮秒级瞬态信号。
低噪声前端设计
垂直灵敏度低至1 mV/div,适用于微弱信号测量(如传感器输出、低功耗射频)。
模块化扩展
可选配光模块(如80C10B)、电模块(如80E10)及TDR模块,灵活适配不同测试需求。
高级分析软件
DPOJet:专业抖动、眼图和时序分析工具。
Optical Analysis Suite:光信号调制格式解调与参数提取。
SignalVu-PC:矢量信号分析与频谱处理。
七、典型应用场景
数据中心:400G/800G光模块研发与生产测试。
半导体厂商:高速SerDes IP验证、硅光芯片特性分析。
航空航天:雷达系统射频前端信号完整性测试。
科研机构:量子通信、太赫兹技术等前沿领域信号捕获。
八、优势与局限性
优势:
超高带宽:覆盖毫米波、光通信等高频需求。
多域联动:支持光、电信号混合测试,提供端到端分析能力。
低噪声高精度:适合高灵敏度测量场景(如低功耗IoT设备)。
局限性:
成本高昂:高端配置价格远超普通示波器,适合预算充足的研发环境。
复杂度高:需专业培训才能充分发挥其高级功能。
选型建议
光通信测试:优先选配高带宽光模块(如80C10B)及相干解调软件。
高速电信号:选择高采样率电模块(如80E10)和TDR配件。
多通道同步:确保主机支持多模块插槽(如DSA8300 8槽机型)。
泰克DSA8300凭借其多模态测试能力和行业领先的精度,成为高速通信、先进半导体和前沿科研领域的核心工具。
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