4200-SCS 参数分析仪由美国吉时利(Keithley)公司生产，适用于材料和设备电气检定的全面解决方案

　　4200-SCS 是一款用于半导体材料和器件电学特性分析的高精度测试系统，它采用模块化、全集成设计，内置计算机和操作系统，就像一个"一站式"工作台，能完成从基础直流到超快脉冲的各类测量任务。

　　使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

　　4200-SCS 参数分析仪主要功能与应用

　　•全面的电学表征：能够精确测量半导体器件的I-V特性(电流-电压)、C-V特性(电容-电压)以及超快脉冲I-V特性。

　　•广泛的材料与器件适用性：可用于测试石墨烯、纳米线、MOSFET、BJT、二极管、LED、太阳能电池、存储器等多种材料和器件。

　　•高精度与科研级应用：其亚fA级的电流分辨率和微伏级的电压分辨率，使其非常适用于要求严苛的实验室研发、材料分析和失效分析。