半导体器件本身的影响因素如DC增益，偏置，非线性度，频响曲线的线性度，通道之间的匹配，量化误差等; 测试环境特别是探头的因素，如探头的地线，探头的负载效应，探头摆放的位置，地环路的干扰等以及算法本身的影响因素。这些影响因素中，最关键的也是最大的一个影响因素是量化误差。 力科的WaveRunner HRO 6Zi 12位ADC的高精度示波器能够减小量化误差的影响，提供更高的信噪比，更大的动态范围，给测量带来更高的测量准确度，因此在一系列的应用中带来了独特的价值，如小电压信号的测量，大电压信号中的局部小信号测量，更精确的FFT测量，相位噪声测量等。